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原子力显微镜
14-03-28 | 编辑: | 【  】【打印】【关闭

    型        号MultiMode 8

    生产厂家:美国 Veeco公司

    性能指标

        1. 常规测量模式:接触模式(Contact Mode)、轻敲模式(Tapping Mode )、扭转共振模式(TR-Mode)抬起模式(Lift Mode)、横向力显微镜(Lateral Force MicroscopyLFM)、磁力显微镜(Magnetic Force MicroscopyMFM)、静电力显微镜(Electric Force MicroscopyEFM)、表面电势测量(Surface Potential Detection)、力曲线测量(Force Curve Detection);

       2. 扩展测量模式:液体环境工作模式;

       3. 扫描范围:125μm×125μm×5μm

       4. 样品尺寸:10mm×10mm×2mm

       5. 噪声水平:tapping模式空气中噪音小于0.03nm

    主要应用

    MultiMode 8 系统主要用于表征纳米材料的形貌,确定颗粒的尺寸;描述磁性分子或颗粒的磁力分布;液晶材料的电性分布及外场的影响;有机、无机、高分子材料的形貌分析、力学性能分析及相分析;电、磁记录材料响应变化的原位观测等。

    相关参考文献

        1. A. E. Pelling, S. Sehati, E. B. Gralla, et al. Science, 2004, 305, 1147-1150.

        2. E. Dague, D. Alsteens, J. Latge, et al. Nano Lett., 2007, 7, 3026-3030.

    仪器管理员:王文海

    联系方式0535-2109058(仪器室)

 


 

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